測定装置および測定方法
文献类型：专利
| 作者 | 高木 和久 |
| 发表日期 | 2019-03-22 |
| 专利号 | JP2019045437A |
| 著作权人 | 三菱電機株式会社 |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 測定装置および測定方法 |
| 英文摘要 | 【課題】本発明は、光変調器集積半導体レーザにおける光変調器部の吸収スペクトルを高精度に測定することが可能な測定装置および測定方法を提供することを目的とする。 【解決手段】本発明による測定装置1は、半導体レーザ部2と光変調器部4とが集積化された光変調器集積半導体レーザ3の吸収スペクトルを測定する測定装置であって、半導体レーザ部3の背面から出力した光の波長スペクトルである半導体レーザ波長スペクトルと、光変調器部4の前面から出力した光の波長スペクトルである光変調器波長スペクトルとを測定する光スペクトラムアナライザ9と、光スペクトラムアナライザ9が測定した光変調器波長スペクトルから半導体レーザ波長スペクトルを減算して吸収スペクトルを算出する演算部10とを備え、半導体レーザ部3には、当該半導体レーザ部3が発振する電流の閾値未満の電流が注入される。 【選択図】図1 |
| 公开日期 | 2019-03-22 |
| 申请日期 | 2017-09-07 |
| 状态 | 申请中 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/57380]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 三菱電機株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 高木 和久. 測定装置および測定方法. JP2019045437A. 2019-03-22. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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