3次元計測用プロジェクタおよび3次元計測装置
文献类型：专利
| 作者 | 小山 二三夫; 顧 暁冬 |
| 发表日期 | 2019-05-16 |
| 专利号 | JP2019074361A |
| 著作权人 | 国立大学法人東京工業大学 |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 3次元計測用プロジェクタおよび3次元計測装置 |
| 英文摘要 | 【課題】高解像度で広偏向角を有する小型で低消費電力な3次元計測用プロジェクタおよび3次元計測装置を提供する。 【解決手段】3次元計測用プロジェクタ100および3次元計測装置1は、参照面上の遠視野像がライン形状のライン光202をデバイス表面から直接出射する光放射構造20と、ライン光を偏向角θが異なる方向に掃引する光掃引構造を備えるビーム偏向デバイス2と、参照面上に、ライン光を時間的に掃引し、ライン光の送出時間と偏向角に基づいてストラクチャードライト200を生成する光掃引コントローラ3と、を有する。 【選択図】図1 |
| 公开日期 | 2019-05-16 |
| 申请日期 | 2017-10-13 |
| 状态 | 申请中 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/57382]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 国立大学法人東京工業大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 小山 二三夫,顧 暁冬. 3次元計測用プロジェクタおよび3次元計測装置. JP2019074361A. 2019-05-16. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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