基于微纳谐振腔实现低功率全光量化的方法和装置
文献类型：专利
| 作者 | 刘香莲 ; 王云才; 李璞; 郭龑强; 郭晓敏; 韩韬
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| 发表日期 | 2017-04-26 |
| 专利号 | CN106602403A |
| 著作权人 | 太原理工大学 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 基于微纳谐振腔实现低功率全光量化的方法和装置 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种基于微纳谐振腔实现低功率全光量化的方法，是现有的全光采样技术和微纳谐振腔的谐振波长与入射光脉冲的功率成线性关系相结合，利用滤波器进行光谱编码，实现全光量化。本发明所述的装置包括基于半导体光放大器的非线性偏振旋转效应的全光采样系统、经过强度调制的采样脉冲光谱展宽系统、基于微纳谐振腔的光学量化系统和光学编码系统；将模拟光信号加载到采样光脉冲序列的强度包络上实现光采样，采样后的光脉冲首先经过光谱展宽系统展宽，然后通过微纳谐振腔实现光学量化，最后经过光学编码系统编码。本发明不仅大大降低了对采样脉冲功率的要求，而且突破了现有的全光量化技术缺点，有望实现高速、高精度的全光量化。 |
| 公开日期 | 2017-04-26 |
| 申请日期 | 2017-02-28 |
| 状态 | 申请中 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/57888]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 太原理工大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘香莲,王云才,李璞,等. 基于微纳谐振腔实现低功率全光量化的方法和装置. CN106602403A. 2017-04-26. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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