被測定物内の成分濃度の測定装置
文献类型：专利
| 作者 | 岸上 勝博; 島野 健 |
| 发表日期 | 2012-08-09 |
| 专利号 | JP2012148034A |
| 著作权人 | 日立マクセル株式会社 |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 被測定物内の成分濃度の測定装置 |
| 英文摘要 | 【課題】ヒト生体などの媒質中の微粒子による光散乱を示す被測定物内の、例えばグルコース濃度などの成分濃度を高精度に測定することが可能な、被測定物内の成分濃度の測定装置を提供する。 【解決手段】直線偏光を出射する半導体レーザ2と、半導体レーザ2からの直線偏光が入射され、入射された光の偏光状態を時間的に変化させる位相変調器3と、位相変調器3によって光の偏光状態が変化させられ、媒質中の微粒子による光散乱を示す被測定物4に照射され、被測定物4を透過した光を偏光分離する偏光ビームスプリッタ5と、偏光分離された2つの偏光をそれぞれ検出する第1及び第2の光検出器6、7と、偏光分離された2つの偏光の検出信号を差動演算する差動増幅器8とを備えた、被測定物内の成分濃度の測定装置1である。差動増幅器8によって得られる差分信号が計測信号として利用される。 【選択図】図1 |
| 公开日期 | 2012-08-09 |
| 申请日期 | 2011-01-21 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/58613]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 日立マクセル株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 岸上 勝博,島野 健. 被測定物内の成分濃度の測定装置. JP2012148034A. 2012-08-09. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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