熱アシスト磁気ヘッドの検査装置及び検査方法
文献类型：专利
| 作者 | 向尾 将樹; 宮本 治一 |
| 发表日期 | 2013-05-20 |
| 专利号 | JP2013097819A |
| 著作权人 | HITACHI LTD |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 熱アシスト磁気ヘッドの検査装置及び検査方法 |
| 英文摘要 | 【課題】光導波路が形成された磁気ヘッド部に、半導体レーザを保持するサブマウントが固定された熱アシスト磁気ヘッドの不良品判別を簡易に行う。 【解決手段】半導体レーザの発光時間を変えながら駆動した状態で、スペクトラムアナライザを用いて波長モニタを行い、測定波長から推測される半導体レーザの内部温度が予め設定した温度範囲外となったとき、ジンバルアセンブリを不良品と判定する。 【選択図】図26 |
| 公开日期 | 2013-05-20 |
| 申请日期 | 2011-10-27 |
| 状态 | 申请中 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/58725]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | HITACHI LTD |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 向尾 将樹,宮本 治一. 熱アシスト磁気ヘッドの検査装置及び検査方法. JP2013097819A. 2013-05-20. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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