光走査装置、画像形成装置、及び半導体レーザ検査方法
文献类型：专利
| 作者 | 井上 潔 |
| 发表日期 | 2013-07-11 |
| 专利号 | JP2013137342A |
| 著作权人 | SHARP CORP |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 光走査装置、画像形成装置、及び半導体レーザ検査方法 |
| 英文摘要 | 【課題】半導体レーザから出射したレーザ光で被走査体を走査する光走査装置において、不用意に画像形成装置における感光体にレーザ光を照射して感光体を露光及び劣化させることなく、画像形成装置に搭載した最終状態での半導体レーザの検査を実施できるようにする。 【解決手段】光走査装置2は、光走査装置2に設けられた反射ミラー30の反射面の方向を所定の方向に調整してから、半導体レーザ20からレーザ光を強制的に出射させて発光検査を実施する検査実施部を有する。上記所定の方向は、上記反射面で反射したレーザ光が、光走査装置2を画像形成装置に搭載した状態での非印字エリアに最終的に照射するような方向とする。 【選択図】図2 |
| 公开日期 | 2013-07-11 |
| 申请日期 | 2011-12-28 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/58744]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | SHARP CORP |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 井上 潔. 光走査装置、画像形成装置、及び半導体レーザ検査方法. JP2013137342A. 2013-07-11. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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