判定装置及び判定方法
文献类型：专利
| 作者 | 日向 進; 深堀 秀則 |
| 发表日期 | 2018-03-01 |
| 专利号 | JP2018031622A |
| 著作权人 | 三菱電機株式会社 |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 判定装置及び判定方法 |
| 英文摘要 | 【課題】半導体レーザを複数備える光源装置の良否を判定することができる判定装置及び判定方法を得ること。 【解決手段】判定装置1は、複数の半導体レーザが発生するレーザ光を集積した加工用レーザ光Laを出射する光源装置50の良否を判定する装置である。判定装置1は、加工用レーザ光Laを出射中の光源装置50から加工用レーザ光Laの波長と強度との分布を示すスペクトル分布を取得する取得手段2を備える。判定装置1は、スペクトル分布から加工用レーザ光Laの最大強度よりも弱い設定強度の波長を算出する算出手段3と、算出手段3が算出した波長と良品の光源装置50の設定強度の波長との差が予め設定された第1の閾値を超えていると不良であると判定し、差が予め設定された第1の閾値以下であると良品であると光源装置50の良否を判定する判定手段5とを備える。 【選択図】図1 |
| 公开日期 | 2018-03-01 |
| 申请日期 | 2016-08-23 |
| 状态 | 申请中 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/59098]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 三菱電機株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 日向 進,深堀 秀則. 判定装置及び判定方法. JP2018031622A. 2018-03-01. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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