Lichtemissionseinrichtung und Verfahren zum Prüfen einer Lichtemissionseinrichtung
文献类型：专利
| 作者 | HAYASHI SHINTARO |
| 发表日期 | 2018-02-01 |
| 专利号 | DE102017116260A1 |
| 著作权人 | PANASONIC INTELLECTUAL PROPERTY MANAGEMENT CO. LTD. |
| 国家 | 德国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | Lichtemissionseinrichtung und Verfahren zum Prüfen einer Lichtemissionseinrichtung |
| 英文摘要 | Eine Lichtemissionseinrichtung beinhaltet: eine Ausstrahlungseinrichtung (106), die eine erste Laserdiode (161) und eine zweite Laserdiode (162) beinhaltet; einen Lichtleiter (101), der einen ersten Fotorezeptor (111), einen zweiten Fotorezeptor (112) und einen Ausleiter (113) beinhaltet und von dem ersten Fotorezeptor (111) und dem zweiten Fotorezeptor (112) empfangenes Laserlicht leitet, wobei der Ausleiter (113) ermöglicht, dass Ausleitlaserlicht in einer Richtung quer zu einer Lichtleitungsrichtung ausgeleitet wird, und das Ausleitlaserlicht Teil des Laserlichtes ist; einen Wandler (103), der eine Wellenlänge des aus dem Lichtleiter (101) ausgeleiteten Ausleitlaserlichtes umwandelt; und einen Detektor (107), der zu einer Nichtausstrahlungszeit, in der kein Laserlicht ausgestrahlt wird, eine elektromotorische Kraft der ersten Laserdiode (161) detektiert, wobei die elektromotorische Kraft auf von der zweiten Laserdiode (162) ausgestrahltem Laserlicht basiert. |
| 公开日期 | 2018-02-01 |
| 申请日期 | 2017-07-19 |
| 状态 | 申请中 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/59160]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | PANASONIC INTELLECTUAL PROPERTY MANAGEMENT CO. LTD. |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | HAYASHI SHINTARO. Lichtemissionseinrichtung und Verfahren zum Prüfen einer Lichtemissionseinrichtung. DE102017116260A1. 2018-02-01. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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