半導体レーザ装置の光軸ズレ角測定装置の校正方法
文献类型：专利
| 作者 | 永井 秀男; 井島 新一 |
| 发表日期 | 1997-08-15 |
| 专利号 | JP1997214057A |
| 著作权人 | 松下電子工業株式会社 |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 半導体レーザ装置の光軸ズレ角測定装置の校正方法 |
| 英文摘要 | 【課題】 未知の光軸ズレ角を有する半導体レーザ装置を用いて光軸ズレ角測定装置の光軸基準を校正する。 【解決手段】 光軸ズレ角測定装置の仮の光軸基準Sを設定し、該設定した仮の光軸基準Sに基づいて校正用半導体レーザ装置20の第1の光軸ズレ角Δθ1 をホトダイオード32で測定し、同半導体レーザ装置20を180度回転させた状態で第2の光軸ズレ角Δθ2 を再度ホトダイオード32で測定し、該測定した第1及び第2の光軸ズレ角Δθ1 ,Δθ2 の平均値から光軸ズレ角測定装置の真の光軸基準S0 を求める。この際、光軸ズレ角測定装置の真の光軸基準S0 と仮の光軸基準Sとのなす角度Δθm は、等式Δθm =(Δθ1 +Δθ2 )/2で与えられる。平均値を求める段階で半導体レーザ装置20の真の光軸ズレ角Δθが打ち消されるので、真の光軸ズレ角Δθが既知である必要はない。 |
| 公开日期 | 1997-08-15 |
| 申请日期 | 1996-02-06 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/59999]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 松下電子工業株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 永井 秀男,井島 新一. 半導体レーザ装置の光軸ズレ角測定装置の校正方法. JP1997214057A. 1997-08-15. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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