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III 族窒化物半導体素子およびその製造方法

文献类型:专利

作者鈴木 健; 松井 俊之; 大井 明彦; 松山 秀昭; 上條 洋
发表日期1999-04-23
专利号JP1999112107A
著作权人FUJI ELECTRIC CO LTD
国家日本
文献子类发明申请
其他题名III 族窒化物半導体素子およびその製造方法
英文摘要【課題】接触抵抗が小さく、素子抵抗の低いIII 族窒化物半導体素子を提供する。 【解決手段】SiまたはGeまたはその混晶、GaAsまたはGaP またはその混晶からなる半導体基板1s上にAlx Gay In1-x-y N (但し、 0≦x,y ≦1 、 0≦x+y≦1 )膜(2tないし7)が積層されてなるIII 族窒化物半導体素子であって、前記Si基板と前記Alx Gay In1-x-y N との間には結晶構造が螢石型またはCr3Si型であり、高い導電性を有する材料からなる導電性バッファ層Cを介在させる。
公开日期1999-04-23
申请日期1997-10-08
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/60101]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位FUJI ELECTRIC CO LTD
推荐引用方式
GB/T 7714
鈴木 健,松井 俊之,大井 明彦,等. III 族窒化物半導体素子およびその製造方法. JP1999112107A. 1999-04-23.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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