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ビーム整形装置および光量モニター装置

文献类型:专利

作者西脇 青児; 百尾 和雄; 高橋 雄一
发表日期2003-10-31
专利号JP2003307710A
著作权人MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD
国家日本
文献子类发明申请
其他题名ビーム整形装置および光量モニター装置
英文摘要【課題】 従来のビーム整形素子では偏光方向とグレーティング方位との整合がとれず、全体として回折効率が悪くなる課題があった。 【解決手段】 半導体レーザー等の光源1を出射するレーザー光3はビーム整形素子2に入射し、その第1面2aを回折して1/2波長板2cを透過し、第2面2bで回折してビームの広がりが円形分布に整形された状態で出射する。ビーム整形素子2の第1面2aに入射する時は偏光状態はp波(矢印5の偏光方向)であったが、1/2波長板2cを透過することでS波(矢印5dの偏光方向)に変換され、第2面2bに入射するとき、およびその後の偏光状態もS波である。ビーム整形素子2を出射後の光は偏光ビームスプリッタ8の偏光面8aを反射し、この光がビームの広がりの整形された光源として使用される。
公开日期2003-10-31
申请日期2002-04-17
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/60823]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD
推荐引用方式
GB/T 7714
西脇 青児,百尾 和雄,高橋 雄一. ビーム整形装置および光量モニター装置. JP2003307710A. 2003-10-31.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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