半導体レーザの劣化検出方法、半導体レーザの劣化検出装置及び画像形成装置
文献类型：专利
| 作者 | 関根 春行 |
| 发表日期 | 2006-01-26 |
| 专利号 | JP2006024836A |
| 著作权人 | KONICA MINOLTA BUSINESS TECHNOLOGIES INC |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 半導体レーザの劣化検出方法、半導体レーザの劣化検出装置及び画像形成装置 |
| 英文摘要 | 【課題】半導体レーザの劣化を初期段階で精度良く検出する。 【解決手段】第1目標光量P1、第2目標光量P2及び第3目標光量P3における半導体レーザ31の駆動電流検出値Dalm1,Dalm2,Dalm3をそれぞれ検出する。第1の差分値δ1=Dalm1-Dalm2、第2の差分値δ2=Dalm2-Dalm3を算出し、第3の差分値(δ1-δ2)と予め定められた基準値Aとを比較することにより、半導体レーザ31の劣化を検出する。 【選択図】図4 |
| 公开日期 | 2006-01-26 |
| 申请日期 | 2004-07-09 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/61113]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | KONICA MINOLTA BUSINESS TECHNOLOGIES INC |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 関根 春行. 半導体レーザの劣化検出方法、半導体レーザの劣化検出装置及び画像形成装置. JP2006024836A. 2006-01-26. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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