テスト回路およびテスト方法
文献类型：专利
| 作者 | 黒岩 洋佑; 福田 秀雄; 山口 博史; 茶藤 哲夫; 志水 雄三; 谷口 正記 |
| 发表日期 | 2007-11-08 |
| 专利号 | JP2007294028A |
| 著作权人 | 松下電器産業株式会社 |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | テスト回路およびテスト方法 |
| 英文摘要 | 【課題】増幅部のテストおよび受光素子間のリーク電流のテストを行う、チップサイズの小さいテスト回路を提供する。 【解決手段】本発明に係るテスト回路は、複数の受光素子101〜104と、受光素子101〜104からの光電流をそれぞれ電圧に変換する増幅部111〜114と、受光素子101〜104および増幅部111〜114に電流を供給する電流供給部121および122とを備え、電流供給部121および122は、複数の受光素子101〜104のうち行および列方向に互いに隣接しない複数の受光素子101および103、および、受光素子101および103に行および列方向に隣接する複数の受光素子102および104に対して選択的に電流を供給する。 【選択図】図1 |
| 公开日期 | 2007-11-08 |
| 申请日期 | 2006-04-26 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/61327]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 松下電器産業株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 黒岩 洋佑,福田 秀雄,山口 博史,等. テスト回路およびテスト方法. JP2007294028A. 2007-11-08. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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