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半導体レーザ制御装置および光走査装置および画像形成装置

文献类型:专利

作者大森 淳史; 石田 雅章; 二瓶 靖厚; 田邊 潤
发表日期2008-09-25
专利号JP2008227129A
著作权人RICOH CO LTD
国家日本
文献子类发明申请
其他题名半導体レーザ制御装置および光走査装置および画像形成装置
英文摘要【課題】 マルチビームを構成する半導体レーザからのマルチビームが入射可能な1個の光検出器が用いられる構成において、1個の半導体レーザに対する検出信号レベルと複数個の半導体レーザに対する検出信号レベルとが著しく異なる場合にも、半導体レーザの高精度な光出力制御を行うことの可能な半導体レーザ制御装置を提供する。 【解決手段】 マルチビームを構成する複数の半導体レーザLD1〜LD4からの光量を発光レベルとして検出する光検出手段PDと、光検出手段PDの検出電流を検出電圧に変換するための検出抵抗(21,22,23,24)と、前記検出電圧に基づいて前記複数の半導体レーザLD1〜LD4の発光レベルを制御する光量制御手段とを有する半導体レーザ制御装置であって、前記検出抵抗(21,22,23,24)の抵抗値を切り替える切替手段20をさらに有している。 【選択図】図3
公开日期2008-09-25
申请日期2007-03-13
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/61405]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位RICOH CO LTD
推荐引用方式
GB/T 7714
大森 淳史,石田 雅章,二瓶 靖厚,等. 半導体レーザ制御装置および光走査装置および画像形成装置. JP2008227129A. 2008-09-25.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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