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レーザ剥離装置、レーザ剥離方法、III族窒化物半導体自立基板の製造方法

文献类型:专利

作者砂川 晴夫; 碓井 彰
发表日期2011-08-04
专利号JP2011151400A
著作权人FURUKAWA CO LTD
国家日本
文献子类发明申请
其他题名レーザ剥離装置、レーザ剥離方法、III族窒化物半導体自立基板の製造方法
英文摘要【課題】レーザ照射によりIII族窒化物半導体膜を下地基板から剥離する際に、III族窒化物半導体膜の破損を抑制する。 【解決手段】サファイア基板11と、サファイア基板11上に設けられているGaN膜12と、を含むサファイア/GaN構造体Wから、レーザ照射によりGaN膜12を剥離するレーザ剥離装置であって、サファイア/GaN構造体Wを、GaN膜12が下方または側方に向いた状態で、GaN膜12表面に接触することなく保持する基板保持台14と、サファイア/GaN構造体Wに対してレーザを照射するレーザ照射部と、を備えるレーザ剥離装置を提供する。 【選択図】図2
公开日期2011-08-04
申请日期2011-02-10
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/61686]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位FURUKAWA CO LTD
推荐引用方式
GB/T 7714
砂川 晴夫,碓井 彰. レーザ剥離装置、レーザ剥離方法、III族窒化物半導体自立基板の製造方法. JP2011151400A. 2011-08-04.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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