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雷射光檢測電路

文献类型:专利

作者栗原壘; 川島貴宏
发表日期2012-01-16
专利号TW201203234A
著作权人安森美半導體貿易公司
国家中国台湾
文献子类发明申请
其他题名雷射光檢測電路
英文摘要本發明之目的為,在雷射光檢測電路中,抑制動作停止模式與動作模式切換時發生之峰值輸出,以防止連接於後段之電路之破壞及/或誤動作。本發明之雷射光檢測電路3係具備:將對應於雷射光之強度之信號放大並輸出之差動放大器30;於基極施加有差動放大器30之輸出之驅動電晶體TR5;連接於驅動電晶體TR5之射極之第二定電流源32;於基極連接有驅動電晶體TR5之射極之輸出電晶體TR7;連接於驅動電晶體TR5之射極與接地之間之旁通電晶體TR9;及控制電路。控制電路係於由動作停止模式轉換至動作模式時,藉由將旁通晶體TR9設為ON,而形成由第二定電流源32經由旁通電晶體TR9到達接地的旁通電流路徑。
公开日期2012-01-16
申请日期2011-03-30
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/61704]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位安森美半導體貿易公司
推荐引用方式
GB/T 7714
栗原壘,川島貴宏. 雷射光檢測電路. TW201203234A. 2012-01-16.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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