面発光レーザおよび光干渉断層計
文献类型：专利
| 作者 | 内田 達朗; 内田 護 |
| 发表日期 | 2015-02-05 |
| 专利号 | JP2015026645A |
| 著作权人 | キヤノン株式会社 |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 面発光レーザおよび光干渉断層計 |
| 英文摘要 | 【課題】 レーザ光横モードの検出精度を向上させる。 【解決手段】 上部反射鏡(105)と、下部反射鏡(101)と、それらの間に設けられた活性層(103)と、を有する面発光レーザ(1、2)において、前記上部反射鏡と前記下部反射鏡とで形成される共振器内の光路(L)に、レーザ光を検出するための、互いに独立した複数の受光部(150)が設けられていることを特徴とする。 【選択図】 図1 |
| 公开日期 | 2015-02-05 |
| 申请日期 | 2013-07-24 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/61869]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | キヤノン株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 内田 達朗,内田 護. 面発光レーザおよび光干渉断層計. JP2015026645A. 2015-02-05. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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