半導体デバイス、光走査装置及び画像形成装置
文献类型：专利
| 作者 | 藤原 将行 |
| 发表日期 | 2015-08-20 |
| 专利号 | JP2015149338A |
| 著作权人 | 株式会社リコー |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 半導体デバイス、光走査装置及び画像形成装置 |
| 英文摘要 | 【課題】少なくとも2つの半導体チップが隣接して導電性ペーストを介して半導体パッケージの面上に実装された半導体デバイスにおいて、導電性ペーストの塗布領域内からのはみ出しによる実装不良を容易に検査可能な半導体デバイスを提供する。 【解決手段】面発光レーザアレイ20の受光素子側を除く3方の周囲外側には、面発光レーザアレイ20の発光部の数に応じて複数のリードフレーム9が設けられ、更に、面発光レーザアレイ20の塗布領域Aと各リードフレーム9との間に配線21が設けられており、配線21は、面発光レーザモジュールに設けた異常検出用端子18と電気的に接続されている。 【選択図】図6 |
| 公开日期 | 2015-08-20 |
| 申请日期 | 2014-02-05 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/61903]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 株式会社リコー |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 藤原 将行. 半導体デバイス、光走査装置及び画像形成装置. JP2015149338A. 2015-08-20. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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