Light-emitting device on-wafer test systems and methods
文献类型：专利
| 作者 | DUDGEON, ROBERT G.; BROWN, MICHAEL G.; KARLICEK, JR., ROBERT F. |
| 发表日期 | 2009-09-24 |
| 专利号 | US20090236506A1 |
| 著作权人 | LUMINUS DEVICES, INC. |
| 国家 | 美国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | Light-emitting device on-wafer test systems and methods |
| 英文摘要 | On-wafer test systems and methods for light-emitting devices, such as light-emitting diodes (LEDs), are provided. The test system may be designed, for example, to characterize the light output from the LED die (e.g., power in Lumens). |
| 公开日期 | 2009-09-24 |
| 申请日期 | 2008-11-20 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/62525]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | LUMINUS DEVICES, INC. |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | DUDGEON, ROBERT G.,BROWN, MICHAEL G.,KARLICEK, JR., ROBERT F.. Light-emitting device on-wafer test systems and methods. US20090236506A1. 2009-09-24. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。