周波数特性測定方法及び周波数特性測定システム
文献类型:专利
作者 | 深田 陽一; 可児 淳一; 寺田 純; 吉本 直人; 尾辻 泰一; 岩月 勝美 |
发表日期 | 2015-01-08 |
专利号 | JP2015004536A |
著作权人 | 日本電信電話株式会社 |
国家 | 日本 |
文献子类 | 发明申请 |
其他题名 | 周波数特性測定方法及び周波数特性測定システム |
英文摘要 | 【課題】光電変換素子入力端で2つのCW光の偏光状態の管理が不要で、実現性の高い光電変換素子の受光感度についての周波数特性測定方法及び周波数特性測定システムを提供することを目的とする。 【解決手段】本発明に係る周波数特性測定方法及び周波数特性測定システムは、偏波揺らぎにより変動するビート電力の測定値の平均値を測定により求め、さらに、偏波揺らぎ速度と1回あたりのビート電力測定速度の関係に依存して定式化された補正を行うことで、高い精度で受光感度Dの周波数特性の測定評価を実現することとした。 【選択図】図5 |
公开日期 | 2015-01-08 |
申请日期 | 2013-06-19 |
状态 | 授权 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/62552] ![]() |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 日本電信電話株式会社 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 深田 陽一,可児 淳一,寺田 純,等. 周波数特性測定方法及び周波数特性測定システム. JP2015004536A. 2015-01-08. |
入库方式: OAI收割
来源:西安光学精密机械研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。