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光増幅利得測定装置

文献类型:专利

作者曲 克明; 伊藤 敏夫; 赤津 祐史; 吉國 裕三
发表日期2000-03-03
专利号JP2000068602A
著作权人NIPPON TELEGR & TELEPH CORP
国家日本
文献子类发明申请
其他题名光増幅利得測定装置
英文摘要【課題】 偏波依存性とともにTEモードとTMモードのいずれの利得が大きいかを測定可能な光増幅利得測定装置を提供すること。 【解決手段】 光源21から発せられた広い波長帯域を有しかつ所定の直線偏波面Aを持つ光を、偏光素子22で被測定試料SのTEモードと一致した直線偏波面Bを持つ光に偏向させ、1/2波長板23の抜き差しに応じてTEモード及びTMモードに調整して被測定試料Sに入射させ、その出射光を光スペクトラムアナライザ24にて波長分光測定させることにより、TEモードとTMモードのいずれの利得が大きいかを測定可能とするとともに、偏波依存性を測定可能とする。
公开日期2000-03-03
申请日期1998-08-21
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/62653]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位NIPPON TELEGR & TELEPH CORP
推荐引用方式
GB/T 7714
曲 克明,伊藤 敏夫,赤津 祐史,等. 光増幅利得測定装置. JP2000068602A. 2000-03-03.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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