半導体レーザ制御方法および半導体レーザ制御装置
文献类型：专利
| 作者 | 赤木 俊哉; 宮端 佳之 |
| 发表日期 | 2000-10-20 |
| 专利号 | JP2000294871A |
| 著作权人 | 松下電器産業株式会社 |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 半導体レーザ制御方法および半導体レーザ制御装置 |
| 英文摘要 | 【課題】 温度変化あるいは寿命劣化による半導体レーザの特性変化があった場合でも、半導体レーザの出射パワーを所望の値に精度よく安定化させることを可能にする。 【解決手段】 半導体レーザ1の特性を半導体レーザ特性検出手段7により測定し、その結果から求めた閾値電流と微分量子効率に基づいて目標値3を目標値補正手段4によって補正する。パワー制御手段5は、補正された目標値をパワー検出手段2の出力と比較することにより半導体レーザ1を制御し、温度あるいは寿命劣化により半導体レーザ1の閾値電流あるいは微分量子効率が変化しても、所望の半導体レーザ1の出射パワーを高い精度で得ることを可能にする。 |
| 公开日期 | 2000-10-20 |
| 申请日期 | 1999-04-09 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/62656]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 松下電器産業株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 赤木 俊哉,宮端 佳之. 半導体レーザ制御方法および半導体レーザ制御装置. JP2000294871A. 2000-10-20. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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