半導体レーザ劣化検出装置およびそれを備えた半導体レーザ装置と半導体レーザモジュール組み立て工程
文献类型：专利
| 作者 | 龍堂 誠; 王 静波; 藤井 孝治 |
| 发表日期 | 2005-03-03 |
| 专利号 | JP2005057069A |
| 著作权人 | 松下電器産業株式会社 |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 半導体レーザ劣化検出装置およびそれを備えた半導体レーザ装置と半導体レーザモジュール組み立て工程 |
| 英文摘要 | 【課題】 半導体レーザ装置の使用中の装置故障、設備停止を引き起こす半導体レーザの劣化は、その予測および検知が困難である。 【解決手段】 半導体レーザ1を駆動させるレーザ駆動用電源2と、半導体レーザの駆動電圧を測定する電圧検出部3と、前記駆動電圧値をもとに所定の演算を行い半導体レーザの劣化レベルを算出する演算部4と、前記劣化レベルと所定の基準値とを比較する比較部5とを備え、比較部の結果により半導体レーザの良否判定を行う半導体レーザ劣化検出装置である。 【選択図】図1 |
| 公开日期 | 2005-03-03 |
| 申请日期 | 2003-08-05 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/62672]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 松下電器産業株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 龍堂 誠,王 静波,藤井 孝治. 半導体レーザ劣化検出装置およびそれを備えた半導体レーザ装置と半導体レーザモジュール組み立て工程. JP2005057069A. 2005-03-03. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。