半導体レーザー測定装置
文献类型：专利
| 作者 | 村岡 保宏; 黒沼 礼詞; 金子 忠好; 前原 文男; 亀山 善雄; 佐藤 実 |
| 发表日期 | 2005-06-02 |
| 专利号 | JP2005142324A |
| 著作权人 | 三洋電機株式会社 |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 半導体レーザー測定装置 |
| 英文摘要 | 【課題】半導体レーザーのキンク特性は速度応答を有し、この速度応答を考慮しないと、半導体レーザーのキンク特性を検出することが出来ない。 【解決手段】光学ヘッドの半導体レーザー1からの出射光を受光するモニタ受光素子3と、レーザードライバ2を制御する制御信号を発生する信号発生回路8,9によりレーザー駆動信号のパルス波形におけるライトパワー値を発生させる期間に対応するタイミングで前記モニタ受光素子3により得られるモニタ出力を測定する測定回路22とを備え、レーザードライバから発生されるレーザー駆動信号の出力レベルを所定刻みに変化させ、その都度、前記測定回路22によりモニタ受光素子3からのモニタ出力を測定し、このモニタ出力の測定値のレーザー駆動信号の出力レベルに対する変化の直線性を検出して半導体レーザー1の品質を判断する。 【選択図】図1 |
| 公开日期 | 2005-06-02 |
| 申请日期 | 2003-11-06 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/62675]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 三洋電機株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 村岡 保宏,黒沼 礼詞,金子 忠好,等. 半導体レーザー測定装置. JP2005142324A. 2005-06-02. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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