発光素子試験装置及び発光素子試験装置用光検出素子
文献类型：专利
| 作者 | 藤井 義磨郎; 岡本 浩二; 坂本 明 |
| 发表日期 | 2006-06-29 |
| 专利号 | JP2006170729A |
| 著作权人 | 浜松ホトニクス株式会社 |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 発光素子試験装置及び発光素子試験装置用光検出素子 |
| 英文摘要 | 【課題】 発光素子の高出力化に伴ってその発光出力をモニタする受光素子の飽和が問題となっている。本発明では発光素子の特性評価試験を低価格で精度よく行え、かつ小型化が可能な発光素子試験装置を提供する。 【解決手段】 多数の微細孔を均一に分散した光吸収膜からなる遮光膜を受光素子の受光面に形成し、受光素子の出力電流を抑制することで飽和特性を制御する。具体的には、半導体レーザダイオード6からのモニタ光のうち、光吸収層10eの微細孔10c以外の部分に入射したモニタ光は光吸収層10eに吸収され、微細孔10c内に入射したモニタ光はホトダイオード10の光入射面に到達する。よってホトダイオード10における飽和が抑えられ、半導体レーザダイオード6の特性評価試験を精度良く行うことができる。また、光吸収層10eは、反射光に起因する半導体レーザダイオード6の誤作動も防ぐ。 【選択図】図1 |
| 公开日期 | 2006-06-29 |
| 申请日期 | 2004-12-14 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/62682]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 浜松ホトニクス株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 藤井 義磨郎,岡本 浩二,坂本 明. 発光素子試験装置及び発光素子試験装置用光検出素子. JP2006170729A. 2006-06-29. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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