半導体レーザの検査装置及び検査方法
文献类型：专利
| 作者 | 長野 一將; 中西 直樹; 津村 康樹 |
| 发表日期 | 2008-02-14 |
| 专利号 | JP2008034548A |
| 著作权人 | MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 半導体レーザの検査装置及び検査方法 |
| 英文摘要 | 【課題】波長の異なる複数のレーザ光を出力する半導体レーザの検査において、信頼性を損なうことなく検査時間を短縮することができる検査装置を提供する。 【解決手段】複数の異なる波長のレーザ光を出力する半導体レーザ1の検査装置10であって、出力すべきレーザ光の波長毎の端子間にそれぞれ駆動電流を供給してそれぞれの波長のレーザ光を検査対象の半導体レーザに同時に出力させる給電部11と、検査対象の半導体レーザから同時に出力される複数の波長のレーザ光をそれぞれの波長毎に分割するレーザ光分割部12と、波長毎に分割されたレーザ光のそれぞれについて光強度を検出する光強度検出部13と、波長毎に検出された光強度が既定値を維持するように駆動電流を制御する制御部14と、波長毎に駆動電流を測定して検査対象の半導体レーザが良品であるか不良品であるかの判定に用いる判定部15とを備える。 【選択図】図2 |
| 公开日期 | 2008-02-14 |
| 申请日期 | 2006-07-27 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/62689]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 長野 一將,中西 直樹,津村 康樹. 半導体レーザの検査装置及び検査方法. JP2008034548A. 2008-02-14. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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