電子部品試験装置
文献类型：专利
| 作者 | 宮 貴則; 早水 勲; 田中 彰一 |
| 发表日期 | 2010-07-08 |
| 专利号 | JP2010151794A |
| 著作权人 | PANASONIC CORP |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 電子部品試験装置 |
| 英文摘要 | 【課題】電子部品の試験において、試験作業を効率化でき、高い試験精度を確保することができる電子部品試験装置を提供する。 【解決手段】電子部品試験装置は、接続端子14に電源を供給して電子部品15を駆動させるソケット1と、電子部品15を搭載する電子部品搭載部材3と、電子部品搭載部材3に接触して電子部品15を所定の温度に保持する温度調節部材とを備え、電子部品搭載部材3は、電子部品15を搭載して温度調節部材に接触する伝熱板8と、電子部品15を覆う電子部品カバー11とを備えており、伝熱板8には貫通孔6が設けられている。 【選択図】図4 |
| 公开日期 | 2010-07-08 |
| 申请日期 | 2009-09-03 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/62698]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | PANASONIC CORP |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 宮 貴則,早水 勲,田中 彰一. 電子部品試験装置. JP2010151794A. 2010-07-08. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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