GaAs基半导体量子点激光器管芯质量的检测和分析方法
文献类型：专利
| 作者 | 梁凌燕; 叶小玲; 徐波; 陈涌海; 王占国 |
| 发表日期 | 2008-07-02 |
| 专利号 | CN101212125A |
| 著作权人 | 中国科学院半导体研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | GaAs基半导体量子点激光器管芯质量的检测和分析方法 |
| 英文摘要 | 一种GaAs基半导体量子点激光器管芯质量的检测方法，其特征在于，包含以下步骤：步骤1：将激光器管芯的引线焊接在样品架上；步骤2：调整样品架，使光垂直于激光器管芯腔面入射；步骤3：将样品架的引线接入光电流测量系统的电路，并确定激光器管芯处于反偏0V状态；步骤4：测量激光器管芯的光电流曲线；步骤5：调节外接电源的输出电压，使管芯的外接偏置电压按步长L增加；步骤6：检测信噪比，若发现信噪比明显变差，则停止测量，若没有则重复步骤4。 |
| 公开日期 | 2008-07-02 |
| 申请日期 | 2006-12-28 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/62719]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 中国科学院半导体研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 梁凌燕,叶小玲,徐波,等. GaAs基半导体量子点激光器管芯质量的检测和分析方法. CN101212125A. 2008-07-02. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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