半导体激光器动态光谱测试方法及装置
文献类型:专利
作者 | 朱炜; 蒋晶; 张茂松 |
发表日期 | 2012-02-15 |
专利号 | CN102353524A |
著作权人 | 北京理工大学 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明申请 |
其他题名 | 半导体激光器动态光谱测试方法及装置 |
英文摘要 | 本发明公开了一种半导体激光器动态光谱测试方法及装置,采用动态波长解调技术来实现光谱特性的动态快速测量,采用长周期光纤光栅作为波长的解调装置,同时利用温度作为光栅布拉格波长的动态调节参数,根据实时测量的光强大小来实现半导体激光器光谱特性的动态快速测量。 |
公开日期 | 2012-02-15 |
申请日期 | 2011-06-27 |
状态 | 授权 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/63459] ![]() |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 北京理工大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 朱炜,蒋晶,张茂松. 半导体激光器动态光谱测试方法及装置. CN102353524A. 2012-02-15. |
入库方式: OAI收割
来源:西安光学精密机械研究所
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