光学装置及び情報処理システム
文献类型：专利
| 作者 | 藤井 俊茂 |
| 发表日期 | 2016-12-01 |
| 专利号 | JP2016200458A |
| 著作权人 | RICOH CO LTD |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 光学装置及び情報処理システム |
| 英文摘要 | 【課題】試料の種別又は状態を非侵襲的に測定させることが可能な光学装置及び情報処理システムを提供する。 【解決手段】所定の偏光方向の直線偏光を試料に向けて射出する照射系10と、直線偏光が試料に入射することによって生じる散乱光を検出する光検出系30-1〜30-3と、を備え、照射系10は、直線偏光を射出するVCSEL11を含み、光検出系30-1〜30-3は、互いに異なる散乱角方向の光路上に配され、散乱光の直線偏光成分を予め定められた角度で通過させる偏光フィルタ31-1〜31-3と、当該偏光フィルタ31-1〜31-3を通過した光を受光する受光器35-1〜35-3とを、含む。 【選択図】図1 |
| 公开日期 | 2016-12-01 |
| 申请日期 | 2015-04-08 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/63503]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | RICOH CO LTD |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 藤井 俊茂. 光学装置及び情報処理システム. JP2016200458A. 2016-12-01. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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