脉冲式半导体激光器特性的检测装置及检测方法
文献类型：专利
| 作者 | 唐文彦; 范贤光; 马强
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| 发表日期 | 2010-03-17 |
| 专利号 | CN101672889A |
| 著作权人 | 哈尔滨工业大学 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 脉冲式半导体激光器特性的检测装置及检测方法 |
| 英文摘要 | 脉冲式半导体激光器特性的检测装置及检测方法，涉及精密仪器与检测技术领域，它解决了现有半导体激光器特性检测装置存在大量热量累积被测激光器所处环境可能存在水蒸气问题。本发明的装置中的硬件控制电路的电流信号输出端输出的电流信号为脉冲式电流信号，所述脉冲式电流信号的步幅a为0.1mA；所述脉冲式电流信号的脉冲宽度b大于等于100ns，并且小于等于20μs；所述脉冲式电流信号的脉冲周期c大于等于200ns，并小于等于20ms；所述脉冲式电流信号的脉冲幅值d大于等于0mA，并小于等于500mA。本发明的装置中还包括氮气源，在检测过程中在被测激光器的环境中充入氮气，使得被测激光器在氮气环境下进行测试，进一步有效的避免水蒸气的生成。 |
| 公开日期 | 2010-03-17 |
| 申请日期 | 2009-08-19 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/63527]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 哈尔滨工业大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 唐文彦,范贤光,马强. 脉冲式半导体激光器特性的检测装置及检测方法. CN101672889A. 2010-03-17. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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