PZT调制系数测试装置及测试方法
文献类型：专利
| 作者 | 方高升; 徐团伟; 李芳 |
| 发表日期 | 2013-10-09 |
| 专利号 | CN103344414A |
| 著作权人 | 中国科学院半导体研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | PZT调制系数测试装置及测试方法 |
| 英文摘要 | 本发明提供一种PZT调制系数测试装置及测试方法，其中PZT调制系数测试装置，包括：一窄线宽半导体激光器；一光隔离器，其输入端与窄线宽半导体激光器的输出端连接；一迈克尔逊干涉仪，其第一输入端与光隔离器的输出端连接；一光电探测器，其输入端与迈克尔逊干涉仪的输出端连接；一数据采集卡，其第一输入端与光电探测器的输出端连接；一数据处理系统，其输入端与数据采集卡的输出端连接；一载波电路，其第一输出端与迈克尔逊干涉仪的第二输入端连接，第二输出端与数据采集卡的第二输入端连接。本发明其可解决现有光纤激光式传感解调系统中PZT调制系数稳定控制与调节的技术问题。 |
| 公开日期 | 2013-10-09 |
| 申请日期 | 2013-06-26 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/63801]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 中国科学院半导体研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 方高升,徐团伟,李芳. PZT调制系数测试装置及测试方法. CN103344414A. 2013-10-09. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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