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化合物半導体装置および通信装置

文献类型:专利

作者寺野 昭久; 樋口 克彦; 工藤 真
发表日期2000-08-15
专利号JP2000228371A
著作权人HITACHI LTD
国家日本
文献子类发明申请
其他题名化合物半導体装置および通信装置
英文摘要【課題】 Inが含まれる化合物半導体に対する従来技術の Au/Mo/Ni/ Au-Ge合金からなる4層構造のオーミック電極は、アニール温度が300℃から400℃まで上昇する間にコンタクト抵抗が10倍以上増大する。また350℃以上のアニールによってアロイ層が所定の電極パターンから横方向にはみ出した形で形成される。 【解決手段】 従来技術電極の Au-Ge合金層とNi層との間にW層を設ける。W層の膜厚は5nm〜20nmの範囲にあることが望ましい。 【効果】 耐熱環境性に優れた化合物半導体装置及び通信装置を実現できる。
公开日期2000-08-15
申请日期1999-02-05
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/63930]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位HITACHI LTD
推荐引用方式
GB/T 7714
寺野 昭久,樋口 克彦,工藤 真. 化合物半導体装置および通信装置. JP2000228371A. 2000-08-15.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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