短波長光源、光波長変換素子および光波長変換素子の検査方法
文献类型：专利
| 作者 | 横山 敏史; 山本 和久; 水内 公典; 北岡 康夫 |
| 发表日期 | 1999-06-18 |
| 专利号 | JP1999160747A |
| 著作权人 | 松下電器産業株式会社 |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 短波長光源、光波長変換素子および光波長変換素子の検査方法 |
| 英文摘要 | 【課題】 短波長光源の量産化において半導体レーザの基本発振波長のばらつきによる影響をなくす必要がある。 【解決手段】 1枚の光波長変換素子11上に光導波路10の幅、分極反転周期を変化させることにより位相整合波長の異なる光導波路を2本以上形成し、半導体レーザの基本発振波長に適合した光導波路を選択する。 |
| 公开日期 | 1999-06-18 |
| 申请日期 | 1997-11-27 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/63990]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 松下電器産業株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 横山 敏史,山本 和久,水内 公典,等. 短波長光源、光波長変換素子および光波長変換素子の検査方法. JP1999160747A. 1999-06-18. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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