波長可変半導体レーザの検査方法及び検査装置、コヒーレント光源の検査方法
文献类型：专利
| 作者 | 北岡 康夫; 横山 敏史; 山本 和久 |
| 发表日期 | 2002-10-09 |
| 专利号 | JP2002296147A |
| 著作权人 | MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 波長可変半導体レーザの検査方法及び検査装置、コヒーレント光源の検査方法 |
| 英文摘要 | 【課題】 波長可変半導体レーザの波長可変特性を簡便でかつ高速に評価する方法を提供する。 【解決手段】 活性領域と位相調整領域とDBR領域から構成される波長可変半導体レーザ1に電流を供給する電源と、半導体レーザの出力強度を検出する受光素子3と、受光素子までの光路上に挿入可能な透過型波長選択素子6から構成される検査装置であり、活性領域に一定の活性電流を注入し、半導体レーザから受光素子までの光路上に透過型波長選択素子を挿入した状態で、位相調整領域に注入する位相電流とDBR領域に注入するDBR電流の少なくとも一方を変化させ、透過型波長選択素子後の半導体レーザ光の出力強度を受光素子により検出し、出力強度の変化点に対応する位相電流及びDBR電流を求め、波長可変DBR半導体レーザの波長可変の安定性などを簡単でかつ高速に検査することができる。 |
| 公开日期 | 2002-10-09 |
| 申请日期 | 2001-03-29 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/64076]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 北岡 康夫,横山 敏史,山本 和久. 波長可変半導体レーザの検査方法及び検査装置、コヒーレント光源の検査方法. JP2002296147A. 2002-10-09. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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