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半導体レーザおよび製造方法

文献类型:专利

作者田中 清武; 木戸口 勲; 足立 秀人; 高森 晃; 福久 敏哉; 萬濃 正也
发表日期1997-12-16
专利号JP1997326531A
著作权人松下電器産業株式会社
国家日本
文献子类发明申请
其他题名半導体レーザおよび製造方法
英文摘要【課題】 高出力を得られるGaInP/AlGaInP系半導体レーザを提供する。 【解決手段】 GaInP/AlGaInP系半導体レーザの高反射コーティング膜に、ECRCVD装置により形成した水素化アモルファスシリコン膜401を用いる。ECRCVD装置により形成した水素化アモルファスシリコン膜401は屈折率が高く、高反射コーティング膜を形成でき、吸収係数が低くいのでコーティング膜の光学破壊が発生しない。よって高出力の半導体レーザを実現できる。
公开日期1997-12-16
申请日期1996-06-04
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/64201]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位松下電器産業株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
田中 清武,木戸口 勲,足立 秀人,等. 半導体レーザおよび製造方法. JP1997326531A. 1997-12-16.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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