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II-VI族化合物半導体の成長方法

文献类型:专利

作者野口 裕泰; 奥山 浩之
发表日期1997-06-06
专利号JP1997148342A
著作权人ソニー株式会社
国家日本
文献子类发明申请
其他题名II-VI族化合物半導体の成長方法
英文摘要【課題】 低結晶欠陥密度で良質のII-VI族化合物半導体を低コストで成長させる。 【解決手段】 分子線エピタキシー法によりII-VI族化合物半導体をIII-V族化合物半導体基板11上に成長させる際に、基板温度300〜550℃においてIII-V族化合物半導体基板11の表面に原子状または活性水素を照射することにより、または、大気圧ないし33Paの圧力の水素ガス雰囲気中において基板温度を580℃以下に保つことにより表面の酸化膜12を除去した後、速やかにその表面にII-VI族化合物半導体層13を成長させる。基板としてII-VI族化合物半導体基板を用いる場合には、基板温度450℃以下においてII-VI族化合物半導体基板の表面に原子状または活性水素を照射することにより酸化膜12を除去する。
公开日期1997-06-06
申请日期1995-11-21
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/64313]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位ソニー株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
野口 裕泰,奥山 浩之. II-VI族化合物半導体の成長方法. JP1997148342A. 1997-06-06.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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