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窒化物半導体レーザ素子の製造方法

文献类型:专利

作者山本 秀一郎; 神川 剛; 川口 佳伸
发表日期2007-07-05
专利号JP2007173581A
著作权人SHARP CORP
国家日本
文献子类发明申请
其他题名窒化物半導体レーザ素子の製造方法
英文摘要【課題】コーティング膜を形成する前に、汚染物などを除去するために共振器端面をプラズマ雰囲気に暴露しても、初期CODレベルを高いものとすることができる窒化物半導体レーザ素子の製造方法を提供する。 【解決手段】窒化物半導体層20を形成したn型GaN基板21を劈開して共振器端面17a、17bを形成し、その上にコーティング膜18、19をそれぞれ形成して窒化物半導体レーザバー10とし、これを分割して窒化物半導体レーザ素子を作製する。コーティング膜18、19を形成する前に、共振器端面17a、17bをヘリウムプラズマを含むプラズマ雰囲気に曝露する。 【選択図】図3
公开日期2007-07-05
申请日期2005-12-22
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/64924]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位SHARP CORP
推荐引用方式
GB/T 7714
山本 秀一郎,神川 剛,川口 佳伸. 窒化物半導体レーザ素子の製造方法. JP2007173581A. 2007-07-05.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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