半导体元件的特性检查用夹具、特性检查装置及特性检查方法
文献类型：专利
| 作者 | 后藤正宪; 深井勉; 大西雅裕; 竹岛直树; 金子正明 |
| 发表日期 | 2008-09-03 |
| 专利号 | CN101256216A |
| 著作权人 | 新科实业有限公司 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 半导体元件的特性检查用夹具、特性检查装置及特性检查方法 |
| 英文摘要 | 特性检查用夹具1具有电路基板2以及可在电路基板上装卸的电极适配器3，电极适配器3上设置有光输出－电流－电压特性(LIV特性)测定用电极部3b和恒温通电测试用电极部3a。电极适配器3安装在电路基板2上，电极适配器3的电极部3a、3b与安装在电路基板2的插口2a上的各半导体激光器4相连通。进行特性检查时，LIV特性测定器的连接管脚与LIV特性测定用电极部3b的连接面接触并电气连接，进而进行测定半导体激光器4的LIV特性、在恒温炉内插入夹具1、以及将恒温通电测试用电极部3a插入插口的恒温通电测试工序，并再次使用LIV特性测定器测定LIV特性。电极部3a、3b老化后只需更换电极适配器3。 |
| 公开日期 | 2008-09-03 |
| 申请日期 | 2008-02-28 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/64996]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 新科实业有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 后藤正宪,深井勉,大西雅裕,等. 半导体元件的特性检查用夹具、特性检查装置及特性检查方法. CN101256216A. 2008-09-03. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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