检体测定装置
文献类型：专利
| 作者 | 松井邦彦; 田村晃子 |
| 发表日期 | 2017-08-18 |
| 专利号 | CN107076658A |
| 著作权人 | 希森美康株式会社 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 检体测定装置 |
| 英文摘要 | 检体测定装置10含有对由检体制备的测定试样照射激光的激光二极管16a、从激光照射过的测定试样中的粒子获取光学信息的检测单元120、向激光二极管16a供给直流驱动信号的驱动电路13、高频化电路14，通过产生在既定周期重复高电平和低电平的电位，从而将从驱动电路13输出的驱动信号在既定周期向与激光二极管16a连接的第一信号路径102不同的第二信号路径103引导，将供给给激光二极管16a的驱动信号高频化。 |
| 公开日期 | 2017-08-18 |
| 申请日期 | 2015-11-10 |
| 状态 | 申请中 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/65243]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 希森美康株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 松井邦彦,田村晃子. 检体测定装置. CN107076658A. 2017-08-18. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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