半导体激光器的可靠性测试方法
文献类型：专利
| 作者 | 章林强; 詹敦平; 周四海 |
| 发表日期 | 2012-06-27 |
| 专利号 | CN102520329A |
| 著作权人 | 江苏飞格光电有限公司 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 半导体激光器的可靠性测试方法 |
| 英文摘要 | 本发明属于半导体光电器件的制造技术，涉及一种半导体激光器的可靠性测试方法，此方法为检测产品的工作性能。其检测方法如下:A:在常温25℃下给激光器加一个工作电流使出光功率为Po，测试其当前的背光电流Im并记录；B:在高温85℃下给激光器加一个工作电流使背光电流为Im，测试其当前的出光功率P1并记录；C:在低温-40℃下给激光器加一个工作电流使背光电流为Im，测试其当前的出光功率P2并记录；D:高温85℃下激光器的光功率变化TE=10LOG(P1/Po)；E:低温-40℃下激光器的光功率变化TE=10LOG(P2/Po)；F:合格判定标准为TE≤5dB。本发明的优点是可以预先判定一个激光器的工作稳定性和失效模式，将产品成本降到最低，其测试的方法简单方便，测试系统搭建的成本低。 |
| 公开日期 | 2012-06-27 |
| 申请日期 | 2011-11-30 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/65493]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 江苏飞格光电有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 章林强,詹敦平,周四海. 半导体激光器的可靠性测试方法. CN102520329A. 2012-06-27. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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