测量平板透明介质折射率的实验装置与实验方法
文献类型：专利
| 作者 | 张宗权; 苗润才; 刘志存; 杨宗立; 鲁百佐; 姚志; 王文成 |
| 发表日期 | 2014-05-21 |
| 专利号 | CN103808693A |
| 著作权人 | 陕西师范大学 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 测量平板透明介质折射率的实验装置与实验方法 |
| 英文摘要 | 一种测量平板透明介质折射率的实验装置与实验方法，在底座上设置有半导体激光器，底座上半导体激光器光出射方向设置有中心线与半导体激光器中心线相垂直的柱透镜，待测平板透明介质的光入射面上设置有坐标纸，坐标纸的标度面粘贴在平板透明介质光入射方向的一侧面。测量平板透明介质折射率的实验测量方法步骤为：坐标纸的标度面贴在已知厚度的平板透明介质光入射面上，半导体激光器出射的激光束入射到柱透镜，出射的线光源垂直入射于平板透明介质上坐标纸的背面，从平板透明介质的另一侧面迎光观察到以坐标纸上的线状光带为中心线对称的暗带，按公式计算出平板透明介质的折射率。可用于于学生光学实验、课堂演示实验以及工程现场测量。 |
| 公开日期 | 2014-05-21 |
| 申请日期 | 2014-02-28 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/65563]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 陕西师范大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张宗权,苗润才,刘志存,等. 测量平板透明介质折射率的实验装置与实验方法. CN103808693A. 2014-05-21. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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