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用于单管芯激光二极管测试老化夹具及使用方法

文献类型:专利

作者孔金霞; 祁琼; 仲莉; 井红旗; 刘素平; 马骁宇
发表日期2016-06-01
专利号CN105628984A
著作权人中国科学院半导体研究所
国家中国
文献子类发明申请
其他题名用于单管芯激光二极管测试老化夹具及使用方法
英文摘要一种用于单管芯激光二极管的测试老化夹具,包括:一水座,其上表面有一个定位凹槽,该水座两端开有入水口和出水口;一底座,其上有施压片,施压片的一端有两个施压杆;一施压模块,其主体呈U形结构,施压模块主要由两部分组成,施压杆和固定杆,固定杆主体为U型结构,其上有操作杆和固定孔,施压杆由定位杆、横轴、横梁、压力作用杆、操作杆组成,定位杆通过底部的固定孔固定在水座上,定位杆上端开有通孔,用于支撑横轴,横轴用于支撑施压杆的横梁,横梁另一端开一U型槽,用于放置固定杆,横梁中部有一固定孔,用于放置压力作用杆,压力作用杆呈上端细,下端粗,细杆上固定一弹簧,弹簧的作用是施加压力时施压横梁可以下移到设定位置。
公开日期2016-06-01
申请日期2016-03-28
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/65648]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位中国科学院半导体研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
孔金霞,祁琼,仲莉,等. 用于单管芯激光二极管测试老化夹具及使用方法. CN105628984A. 2016-06-01.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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