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同调取样品质因素测量装置与方法

文献类型:专利

作者徐达儒; 李三良
发表日期2007-07-04
专利号CN1992561A
著作权人财团法人工业技术研究院
国家中国
文献子类发明申请
其他题名同调取样品质因素测量装置与方法
英文摘要一种同调取样品质因素测量装置与方法,用于光网络中实时监测光讯号的品质,该品质以一品质因素评估,该装置利用激光二极管搭配波长转换器达到波长同调并放大光讯号,并且利用激光二极管搭配光开关得到可取样的光脉冲,因此,进入光电转换器之后,由光讯号放大与光脉冲的耦合即可重建光讯号中的基频讯号,进而检测出品质因素,监测光讯号品质。
公开日期2007-07-04
申请日期2005-12-31
状态授权
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/66282]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位财团法人工业技术研究院
推荐引用方式
GB/T 7714
徐达儒,李三良. 同调取样品质因素测量装置与方法. CN1992561A. 2007-07-04.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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