同调取样品质因素测量装置与方法
文献类型:专利
作者 | 徐达儒; 李三良 |
发表日期 | 2007-07-04 |
专利号 | CN1992561A |
著作权人 | 财团法人工业技术研究院 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明申请 |
其他题名 | 同调取样品质因素测量装置与方法 |
英文摘要 | 一种同调取样品质因素测量装置与方法,用于光网络中实时监测光讯号的品质,该品质以一品质因素评估,该装置利用激光二极管搭配波长转换器达到波长同调并放大光讯号,并且利用激光二极管搭配光开关得到可取样的光脉冲,因此,进入光电转换器之后,由光讯号放大与光脉冲的耦合即可重建光讯号中的基频讯号,进而检测出品质因素,监测光讯号品质。 |
公开日期 | 2007-07-04 |
申请日期 | 2005-12-31 |
状态 | 授权 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/66282] ![]() |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 财团法人工业技术研究院 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 徐达儒,李三良. 同调取样品质因素测量装置与方法. CN1992561A. 2007-07-04. |
入库方式: OAI收割
来源:西安光学精密机械研究所
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