一种辐射计光阑面积的高精度测量装置
文献类型：专利
| 作者 | 方伟; 陈祥子; 杨振岭 |
| 发表日期 | 2014-02-19 |
| 专利号 | CN103591910A |
| 著作权人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 一种辐射计光阑面积的高精度测量装置 |
| 英文摘要 | 本发明属于光辐射计量领域中一种辐射计光阑面积的高精度测量装置，是对有效面积法测量装置的改进。本发明的测量装置是由半导体激光器堆叠实现的照度均匀的光源系统，样品支撑架，积分球，探测器等主要部分构成。本发明的积极效果是使测量过程简单化，同时又减少了复杂的测量装置中各个部分带来的系统不确定度，间接的测量光阑的面积，测得的光阑面积为有效面积或辐射计量面积，并非光阑机械面积，这对光阑面积测量的实际应用有着很大的进步意义。本发明的测量装置可以适用于多种需要精确测量光阑面积的系统，不仅仅局限于辐射计光阑面积的测量。 |
| 公开日期 | 2014-02-19 |
| 申请日期 | 2013-10-28 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/66288]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 方伟,陈祥子,杨振岭. 一种辐射计光阑面积的高精度测量装置. CN103591910A. 2014-02-19. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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