透视测量树脂基复合材料内部离面位移场分布的装置及方法
文献类型：专利
| 作者 | 周延周; 徐金雄; 刘羽飞 |
| 发表日期 | 2014-01-22 |
| 专利号 | CN103528524A |
| 著作权人 | 广东工业大学 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 透视测量树脂基复合材料内部离面位移场分布的装置及方法 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种透视测量树脂基复合材料构件内部离面位移场分布的装置及方法。该装置是设计迈克尔逊多表面干涉的光学系统，在参考臂端引入一个双表面光楔，形成光楔和被测树脂基复合材料内部反射信号之间的干涉图像。光楔有两个作用，首先用于监测激光波数k，其次提供干涉的参考平面。通过温度扫描，半导体激光控制器输出激光的波数也进行扫描，与此同时，CCD相机拍摄多帧干涉图像。分别对加载前后干涉图像序列进行傅里叶变换，干涉峰值对应的相位差可以解调出被测树脂基复合材料构件内部离面位移场分布。该装置及方法的优点是可以进行透视测量，且离面位移场测量精度高，为树脂基复合材料内部力学性能测量和无损检测提供了一种新的技术平台。 |
| 公开日期 | 2014-01-22 |
| 申请日期 | 2013-09-16 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/66787]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 广东工业大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 周延周,徐金雄,刘羽飞. 透视测量树脂基复合材料内部离面位移场分布的装置及方法. CN103528524A. 2014-01-22. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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