半导体激光器测试装置、系统和方法
文献类型：专利
| 作者 | 张丽雯; 陆耀东; 高和平; 任奕奕; 宋金鹏 |
| 发表日期 | 2014-12-24 |
| 专利号 | CN104237762A |
| 著作权人 | 北京光电技术研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 半导体激光器测试装置、系统和方法 |
| 英文摘要 | 本发明提供一种半导体激光器测试装置、系统和方法，通过利用电压传感器、电流传感器、功率传感器和温度传感器分别测量半导体激光器的输入电压、输入电流、输入功率和工作温度，然后利用数据采集电路对测量得到的输入电压、输入电流、输入功率和工作温度进行数据采集得到输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线，由于采用了对半导体激光器的多种参量进行测量，获得输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线的方式，不仅能够根据输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线直观反映半导体激光器工作状态的稳定性，而且提高了测试的准确性。 |
| 公开日期 | 2014-12-24 |
| 申请日期 | 2014-07-23 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/66941]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 北京光电技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张丽雯,陆耀东,高和平,等. 半导体激光器测试装置、系统和方法. CN104237762A. 2014-12-24. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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