散射光测定装置
文献类型：专利
| 作者 | 尾崎幸洋; 窦晓鸣; 山口佳则; 上野山晴三 |
| 发表日期 | 1997-08-27 |
| 专利号 | CN1157915A |
| 著作权人 | 株式会社京都第一科学 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 散射光测定装置 |
| 英文摘要 | 用作向试样照射激发光的光源装有近红外半导体激光二极管1a，接收来自拉曼散射光的接收光单元中装有以待测定试样成分的固有振动频率为透过带的中心波长的带通滤光器(6)和用于检测透过该带通滤光器(6)的拉曼散射光的Ge、InAs或InGaAs的光电二极管或由在近红外范围内具有灵敏度的光电倍增管组成的检测器7a。 |
| 公开日期 | 1997-08-27 |
| 申请日期 | 1996-12-30 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/66943]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 株式会社京都第一科学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 尾崎幸洋,窦晓鸣,山口佳则,等. 散射光测定装置. CN1157915A. 1997-08-27. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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