利用双暗态系统测量微波电场的方法
文献类型：专利
| 作者 | 彭延东; 张仲健; 汪金陵; 李晨 ; 任廷琦
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| 发表日期 | 2017-07-07 |
| 专利号 | CN106932657A |
| 著作权人 | 山东科技大学 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 利用双暗态系统测量微波电场的方法 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种利用双暗态系统测量微波电场的方法，由外腔半导体激光器提供激光通过二向色镜分成探测光和耦合光，经过半波片和偏振分束器同向进入铷原子汽室；两个半波片分别调节探测光场和耦合光场的入射光强，使得控制场>>探测场；将探测光锁定在铷里德堡原子5S1/2(F＝1)→5P3/2跃迁线上，将控制光锁定在铷里德堡态原子5S1/2(F＝2)→5P3/2跃迁线上；倍频激光器提供耦合光，调节耦合光在能级5P3/2→53D5/2共振频率耦合；由微波模拟信号发生器提供功率可调的微波信号，耦合里德堡原子态矢53D5/2→54P3/2之间的跃迁，导致里德堡原子的EIT的透射峰发生分裂；用光电探测器检测探测光的吸收特性，由透射峰线宽间距表征微波信号的电场强度。该方法能极大地压窄透射峰线宽提高探测精度和灵敏度。 |
| 公开日期 | 2017-07-07 |
| 申请日期 | 2017-05-08 |
| 状态 | 申请中 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/67031]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 山东科技大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 彭延东,张仲健,汪金陵,等. 利用双暗态系统测量微波电场的方法. CN106932657A. 2017-07-07. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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