光電子回路基板および光電子回路基板の検査装置
文献类型：专利
| 作者 | 小竹 直志 |
| 发表日期 | 2009-03-19 |
| 专利号 | JP2009058747A |
| 著作权人 | FUJI XEROX CO LTD |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 光電子回路基板および光電子回路基板の検査装置 |
| 英文摘要 | 【課題】受発光部の回路基板上への実装後に受発光部および光伝送路の不具合を検査することのできる光電子回路基板および光電子回路基板の検査装置を提供する。 【解決手段】基板10の第2基板10B側には、第1光モジュール12Aの発光素子125から発せられる光を受光する受光器14が設けられている。受光器14は、第1基板10Aに設けられる開口部10aから入射する光の一部が光導波路10Cを介して透過するように第2基板10Bに設けられる開口部10bに位置するように設けられており、受光した光の光強度に応じた受光信号を光電変換してアナログ信号として出力する。 【選択図】図2 |
| 公开日期 | 2009-03-19 |
| 申请日期 | 2007-08-31 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/67461]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | FUJI XEROX CO LTD |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 小竹 直志. 光電子回路基板および光電子回路基板の検査装置. JP2009058747A. 2009-03-19. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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